KTJ250B336M55BFT00 Chemi-Con
Виробник: Chemi-ConSpeciality Ceramic Capacitors 25VDC 33uF Tol 20% 6x5.3x5.5mm Double Stack AEC-Q200
на замовлення 2000 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 2+ | 223.80 грн |
| 100+ | 180.89 грн |
| 1000+ | 115.86 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис KTJ250B336M55BFT00 Chemi-Con
Description: CAP CER 33UF 25V X7R SMD, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Lead Style: J-Lead, Features: Low ESL (Stacked), Voltage - Rated: 25V, Package / Case: Stacked SMD, 2 J-Lead, Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.236" L x 0.209" W (6.00mm x 5.30mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Bypass, Decoupling, Thickness (Max): 0.217" (5.50mm), Capacitance: 33 µF.
Інші пропозиції KTJ250B336M55BFT00 за ціною від 187.53 грн до 351.93 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
KTJ250B336M55BFT00 | Виробник : Chemi-Con |
Description: CAP CER 33UF 25V X7R SMDPackaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±20% Lead Style: J-Lead Features: Low ESL (Stacked) Voltage - Rated: 25V Package / Case: Stacked SMD, 2 J-Lead Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.236" L x 0.209" W (6.00mm x 5.30mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.217" (5.50mm) Capacitance: 33 µF |
на замовлення 494 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
|
KTJ250B336M55BFT00 | Виробник : Chemi-Con |
Description: CAP CER 33UF 25V X7R SMDPackaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±20% Lead Style: J-Lead Features: Low ESL (Stacked) Voltage - Rated: 25V Package / Case: Stacked SMD, 2 J-Lead Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.236" L x 0.209" W (6.00mm x 5.30mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Bypass, Decoupling Thickness (Max): 0.217" (5.50mm) Capacitance: 33 µF |
товару немає в наявності |