
KTR18EZPF5903 ROHM Semiconductor
на замовлення 952 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
18+ | 19.14 грн |
52+ | 6.51 грн |
100+ | 3.53 грн |
1000+ | 3.02 грн |
5000+ | 2.06 грн |
10000+ | 1.77 грн |
25000+ | 1.69 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис KTR18EZPF5903 ROHM Semiconductor
Description: RES SMD 590K OHM 1% 1/4W 1206, Power (Watts): 0.25W, 1/4W, Tolerance: ±1%, Features: Automotive AEC-Q200, High Voltage, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 1206 (3216 Metric), Temperature Coefficient: ±100ppm/°C, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Composition: Thick Film, Operating Temperature: -55°C ~ 155°C, Ratings: AEC-Q200, Number of Terminations: 2, Supplier Device Package: 1206, Height - Seated (Max): 0.026" (0.65mm), Part Status: Active, Resistance: 590 kOhms.
Інші пропозиції KTR18EZPF5903
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
KTR18EZPF5903 | Виробник : Rohm Semiconductor |
![]() Power (Watts): 0.25W, 1/4W Tolerance: ±1% Features: Automotive AEC-Q200, High Voltage Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: ±100ppm/°C Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Ratings: AEC-Q200 Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 1206 Height - Seated (Max): 0.026" (0.65mm) Part Status: Active Resistance: 590 kOhms |
товару немає в наявності |
|
![]() |
KTR18EZPF5903 | Виробник : Rohm Semiconductor |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Power (Watts): 0.25W, 1/4W Tolerance: ±1% Features: Automotive AEC-Q200, High Voltage Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: ±100ppm/°C Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Ratings: AEC-Q200 Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 1206 Height - Seated (Max): 0.026" (0.65mm) Part Status: Active Resistance: 590 kOhms |
товару немає в наявності |