LMC6772AIM National Semiconductor
на замовлення 1447 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 109+ | 202.21 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис LMC6772AIM National Semiconductor
Description: IC COMPARATOR 2 GEN PUR 8SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 8-SOIC (0.154", 3.90mm Width), Output Type: Open-Drain, Mounting Type: Surface Mount, Number of Elements: 2, Type: General Purpose, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Voltage - Supply, Single/Dual (±): 2.7V ~ 15V, ±1.35V ~ 7.5V, Supplier Device Package: 8-SOIC, Propagation Delay (Max): 10µs, Current - Quiescent (Max): 20µA, Voltage - Input Offset (Max): 5mV @ 5V, Current - Input Bias (Max): 0.04pA @ 5V, Current - Output (Typ): 30mA, CMRR, PSRR (Typ): 75dB CMRR, 80dB PSRR.
Інші пропозиції LMC6772AIM за ціною від 112.68 грн до 112.68 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
LMC6772AIM | Виробник : Texas Instruments |
Analog Comparators Dual low-power, 15V comparator with open-drain output 8-SOIC -40 to 85 |
на замовлення 190 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|||||
| LMC6772AIM | Виробник : NSC |
Dual Voltage Comparator; tpd 10000ns; Voff 3mV; 2,7V~15V; +/-1,35?+/-7,5V; -40?85°C; Substitute: LMC6772AIM/NOPB; LMC6772AIMX/NOPB; LMC6772AIM WK6772aim кількість в упаковці: 5 шт |
на замовлення 10 шт: термін постачання 28-31 дні (днів) |
|
|||||
 |
LMC6772AIM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC COMPARATOR 2 GEN PUR 8SOIC Packaging: Tube Package / Case: 8-SOIC (0.154", 3.90mm Width) Output Type: Open-Drain Mounting Type: Surface Mount Number of Elements: 2 Type: General Purpose Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Voltage - Supply, Single/Dual (±): 2.7V ~ 15V, ±1.35V ~ 7.5V Supplier Device Package: 8-SOIC Propagation Delay (Max): 10µs Current - Quiescent (Max): 20µA Voltage - Input Offset (Max): 5mV @ 5V Current - Input Bias (Max): 0.04pA @ 5V Current - Output (Typ): 30mA CMRR, PSRR (Typ): 75dB CMRR, 80dB PSRR |
товару немає в наявності |