LMG3626ZREQR Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: 650V 270M GAN FET WITH INTEGRATE
Mounting Type: Surface Mount
Output Type: N-Channel
Package / Case: 38-VFQFN Exposed Pad
Features: Slew Rate Controlled, Status Flag
Packaging: Cut Tape (CT)
Fault Protection: Current Limiting (Fixed), Over Temperature, UVLO
Supplier Device Package: 38-VQFN (8x5.3)
Ratio - Input:Output: 1:1
Current - Output (Max): 4A
Voltage - Supply (Vcc/Vdd): 10V ~ 26V
Voltage - Load: 700V
Input Type: Non-Inverting
Rds On (Typ): 220mOhm
Output Configuration: Low Side
Operating Temperature: -40°C ~ 125°C (TJ)
Switch Type: General Purpose
Interface: On/Off
Number of Outputs: 1
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 393.38 грн |
| 10+ | 289.87 грн |
| 25+ | 267.56 грн |
| 100+ | 228.09 грн |
| 250+ | 218.94 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис LMG3626ZREQR Texas Instruments
Description: 650V 270M GAN FET WITH INTEGRATE, Fault Protection: Current Limiting (Fixed), Over Temperature, UVLO, Supplier Device Package: 38-VQFN (8x5.3), Ratio - Input:Output: 1:1, Current - Output (Max): 4A, Voltage - Supply (Vcc/Vdd): 10V ~ 26V, Voltage - Load: 700V, Input Type: Non-Inverting, Rds On (Typ): 220mOhm, Output Configuration: Low Side, Operating Temperature: -40°C ~ 125°C (TJ), Switch Type: General Purpose, Interface: On/Off, Number of Outputs: 1, Mounting Type: Surface Mount, Output Type: N-Channel, Package / Case: 38-VFQFN Exposed Pad, Features: Slew Rate Controlled, Status Flag, Packaging: Tape & Reel (TR).
Інші пропозиції LMG3626ZREQR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
|
LMG3626ZREQR | Texas Instruments |
Gate Drivers 650V 270mohm GaN FET with integrated dri |
на замовлення 2000 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| LMG3626ZREQR |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
Gate Drivers 650V 270mohm GaN FET with integrated dri
Gate Drivers 650V 270mohm GaN FET with integrated dri
на замовлення 2000 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)



