LMK107B7224KA-T Taiyo Yuden
на замовлення 136000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 17648+ | 0.70 грн |
| 18073+ | 0.68 грн |
| 28000+ | 0.67 грн |
| 52000+ | 0.64 грн |
| 100000+ | 0.57 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис LMK107B7224KA-T Taiyo Yuden
Description: CAP CER 0.22UF 10V X7R 0603, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 10V, Package / Case: 0603 (1608 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: SMPS Filtering, Thickness (Max): 0.035" (0.90mm), Capacitance: 0.22 µF.
Інші пропозиції LMK107B7224KA-T за ціною від 0.94 грн до 8.81 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
LMK107B7224KA-T | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.22UF 10V X7R 0603Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 10V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: SMPS Filtering Thickness (Max): 0.035" (0.90mm) Capacitance: 0.22 µF |
на замовлення 6845 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
|
LMK107B7224KA-T | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT SUGGESTED ALTERNATE LMK105B7224KV-FR |
на замовлення 4886 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||
|
LMK107B7224KA-T | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.22UF 10V X7R 0603Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 10V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: SMPS Filtering Thickness (Max): 0.035" (0.90mm) Capacitance: 0.22 µF |
товару немає в наявності |


