LMK212SD473JD-T Taiyo Yuden
на замовлення 4000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 4000+ | 10.96 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис LMK212SD473JD-T Taiyo Yuden
Description: CAP CER 0.047UF 10V 0805, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±5%, Features: Low Distortion, Voltage - Rated: 10V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.037" (0.95mm), Part Status: Not For New Designs, Capacitance: 0.047 µF.
Інші пропозиції LMK212SD473JD-T за ціною від 6.46 грн до 37.42 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
LMK212SD473JD-T | Виробник : Taiyo Yuden |
 Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 10V 0.047uF Low Dist 0805 5 % |
на замовлення 4000 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
LMK212SD473JD-T | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.047UF 10V 0805 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±5% Features: Low Distortion Voltage - Rated: 10V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.037" (0.95mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 0.047 µF |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
|
LMK212SD473JD-T | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.047UF 10V 0805 Tolerance: ±5% Features: Low Distortion Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 10V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.037" (0.95mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 0.047 µF |
товару немає в наявності |