
на замовлення 28 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
10+ | 63.05 грн |
11+ | 55.79 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис LP2901D Texas Instruments
Description: IC COMPARATOR 4 GEN PUR 14SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 14-SOIC (0.154", 3.90mm Width), Output Type: CMOS, MOS, Open-Collector, Mounting Type: Surface Mount, Number of Elements: 4, Type: General Purpose, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Voltage - Supply, Single/Dual (±): 3V ~ 30V, Supplier Device Package: 14-SOIC, Current - Quiescent (Max): 100µA, Voltage - Input Offset (Max): 5mV @ 30V, Current - Input Bias (Max): 0.025µA @ 5V, Current - Output (Typ): 30mA @ 5V.
Інші пропозиції LP2901D за ціною від 40.30 грн до 102.41 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
LP2901D | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
на замовлення 1213 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||||
![]() |
LP2901D | Виробник : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tube Package / Case: 14-SOIC (0.154", 3.90mm Width) Output Type: CMOS, MOS, Open-Collector Mounting Type: Surface Mount Number of Elements: 4 Type: General Purpose Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Voltage - Supply, Single/Dual (±): 3V ~ 30V Supplier Device Package: 14-SOIC Current - Quiescent (Max): 100µA Voltage - Input Offset (Max): 5mV @ 30V Current - Input Bias (Max): 0.025µA @ 5V Current - Output (Typ): 30mA @ 5V |
на замовлення 2882 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||||
![]() |
LP2901D | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
на замовлення 28 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|||||||||||||||||||
![]() |
LP2901D | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||||
![]() |
LP2901D | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||||
LP2901D | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
![]() |
товару немає в наявності |