
на замовлення 12000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
1000+ | 61.85 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис M32159B06MS3 Vishay
Description: RES SMD 0 OHM JUMP 0.15W 0705, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: Jumper, Features: Military, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Size / Dimension: 0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm), Composition: Thick Film, Operating Temperature: -55°C ~ 150°C, Number of Terminations: 2, Supplier Device Package: 0705, Height - Seated (Max): 0.033" (0.84mm), Failure Rate: M (1%), Part Status: Active, Resistance: 0 Ohms.
Інші пропозиції M32159B06MS3 за ціною від 67.81 грн до 441.29 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
M32159B06MS3 | Виробник : Vishay Dale |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: Jumper Features: Military Package / Case: 0805 (2012 Metric) Size / Dimension: 0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 150°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0705 Height - Seated (Max): 0.033" (0.84mm) Failure Rate: M (1%) Part Status: Active Resistance: 0 Ohms |
на замовлення 2000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
M32159B06MS3 | Виробник : Vishay Dale |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: Jumper Features: Military Package / Case: 0805 (2012 Metric) Size / Dimension: 0.080" L x 0.050" W (2.03mm x 1.27mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 150°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0705 Height - Seated (Max): 0.033" (0.84mm) Failure Rate: M (1%) Part Status: Active Resistance: 0 Ohms |
на замовлення 2373 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
M32159B06MS3 | Виробник : Vishay |
![]() |
на замовлення 12000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
M32159B06MS3 | Виробник : Vishay |
![]() |
товару немає в наявності |