MCASJ168SB5225KTNA01 Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenDescription: CAP CER 2.2UF 6.3V X5R 0603
Packaging: Cut Tape (CT)
Tolerance: ±10%
Voltage - Rated: 6.3V
Package / Case: 0603 (1608 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: Automotive
Ratings: AEC-Q200
Thickness (Max): 0.035" (0.90mm)
Capacitance: 2.2 µF
на замовлення 3950 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 45+ | 7.35 грн |
| 67+ | 4.72 грн |
| 112+ | 2.82 грн |
| 143+ | 2.07 грн |
| 500+ | 1.53 грн |
| 1000+ | 1.27 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис MCASJ168SB5225KTNA01 Taiyo Yuden
Description: CAP CER 2.2UF 6.3V X5R 0603, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 6.3V, Package / Case: 0603 (1608 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: Automotive, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.035" (0.90mm), Capacitance: 2.2 µF.
Інші пропозиції MCASJ168SB5225KTNA01
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| MCASJ168SB5225KTNA01 | Виробник : Taiyo Yuden |
Cap Ceramic 2.2uF 6.3V X5R 10% Pad SMD 0603 85C Automotive AEC-Q200 T/R |
товару немає в наявності |
||
|
MCASJ168SB5225KTNA01 | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 2.2UF 6.3V X5R 0603Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 6.3V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.035" (0.90mm) Capacitance: 2.2 µF |
товару немає в наявності |
|
| MCASJ168SB5225KTNA01 | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT CAP ,MLCC ,0603,6.3V,X5R,2.2uF10% ,T&R |
товару немає в наявності |