MKP1839410635R Vishay Beyschlag/Draloric/BC Components
Виробник: Vishay Beyschlag/Draloric/BC Components
Description: CAP FILM 0.1UF 10% 630VDC AXIAL
Tolerance: ±10%
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: Axial
Mounting Type: Through Hole
Operating Temperature: -55°C ~ 100°C
Applications: DC Link, DC Filtering; High Pulse, DV/DT
Termination: PC Pins
Dielectric Material: Polypropylene (PP), Metallized
Voltage Rating - AC: 250V
Voltage Rating - DC: 630V
Capacitance: 0.1 µF
Size / Dimension: 0.335" Dia x 1.043" L (8.50mm x 26.50mm)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 1000+ | 80.72 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис MKP1839410635R Vishay Beyschlag/Draloric/BC Components
Description: CAP FILM 0.1UF 10% 630VDC AXIAL, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: Axial, Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -55°C ~ 100°C, Applications: DC Link, DC Filtering; High Pulse, DV/DT, Termination: PC Pins, Dielectric Material: Polypropylene (PP), Metallized, Voltage Rating - AC: 250V, Voltage Rating - DC: 630V, Capacitance: 0.1 µF, Size / Dimension: 0.335" Dia x 1.043" L (8.50mm x 26.50mm).
Інші пропозиції MKP1839410635R за ціною від 94.30 грн до 221.40 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
MKP1839410635R | Виробник : Vishay Beyschlag/Draloric/BC Components |
Description: CAP FILM 0.1UF 10% 630VDC AXIAL Tolerance: ±10% Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: Axial Mounting Type: Through Hole Operating Temperature: -55°C ~ 100°C Applications: DC Link, DC Filtering; High Pulse, DV/DT Termination: PC Pins Dielectric Material: Polypropylene (PP), Metallized Voltage Rating - AC: 250V Voltage Rating - DC: 630V Capacitance: 0.1 µF Size / Dimension: 0.335" Dia x 1.043" L (8.50mm x 26.50mm) |
на замовлення 1000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
 |
MKP1839410635R | Виробник : Vishay / Roederstein |
Film Capacitors .1UF 630V 10% |
товару немає в наявності |