MMA02040C2207JB000 Vishay / Beyschlag
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 47+ | 6.93 грн |
| 49+ | 6.51 грн |
| 65+ | 4.28 грн |
| 100+ | 3.94 грн |
| 250+ | 3.38 грн |
| 500+ | 2.90 грн |
| 10000+ | 2.76 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис MMA02040C2207JB000 Vishay / Beyschlag
Description: RES 0.22 OHM 5% 2/5W MELF 0204, Packaging: Tape & Reel (TR), Power (Watts): 0.4W, 2/5W, Tolerance: ±5%, Features: Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200, Package / Case: MELF, 0204, Temperature Coefficient: ±50ppm/°C, Size / Dimension: 0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm), Composition: Thin Film, Operating Temperature: -55°C ~ 155°C, Number of Terminations: 2, Supplier Device Package: 0204, Part Status: Active, Resistance: 220 mOhms.
Інші пропозиції MMA02040C2207JB000 за ціною від 3.84 грн до 14.76 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
MMA02040C2207JB000 | Виробник : Vishay |
 Description: RES 0.22 OHM 5% 2/5W MELF 0204Packaging: Cut Tape (CT) Power (Watts): 0.4W, 2/5W Tolerance: ±5% Features: Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200 Package / Case: MELF, 0204 Temperature Coefficient: ±50ppm/°C Size / Dimension: 0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm) Composition: Thin Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0204 Part Status: Active Resistance: 220 mOhms |
на замовлення 3748 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||||
|
|
MMA02040C2207JB000 | Виробник : Vishay |
Description: RES 0.22 OHM 5% 2/5W MELF 0204 Packaging: Tape & Reel (TR) Power (Watts): 0.4W, 2/5W Tolerance: ±5% Features: Anti-Sulfur, Automotive AEC-Q200 Package / Case: MELF, 0204 Temperature Coefficient: ±50ppm/°C Size / Dimension: 0.055" Dia x 0.142" L (1.40mm x 3.60mm) Composition: Thin Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0204 Part Status: Active Resistance: 220 mOhms |
товару немає в наявності |