MR12X6190FTL Walsin Technology
Виробник: Walsin TechnologyRes Thick Film 1206 619 Ohm 1% 0.25W(1/4W) ±100ppm/C Sulfur Resistant Pad SMD Automotive T/R
на замовлення 80000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 5000+ | 0.21 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис MR12X6190FTL Walsin Technology
Category: SMD resistors, Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 619Ω; 250mW; ±1%; 100ppm/°C, Mounting: SMD, Case - mm: 3216, Case - inch: 1206, Type of resistor: thick film, Power: 0.25W, Resistance: 619Ω, Tolerance: ±1%, Temperature coefficient: 100ppm/°C, Max. operating voltage: 200V, кількість в упаковці: 5000 шт.
Інші пропозиції MR12X6190FTL за ціною від 0.33 грн до 0.45 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
MR12X6190FTL | Виробник : WALSIN |
Category: SMD resistors Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 619Ω; 250mW; ±1%; 100ppm/°C Mounting: SMD Case - mm: 3216 Case - inch: 1206 Type of resistor: thick film Power: 0.25W Resistance: 619Ω Tolerance: ±1% Temperature coefficient: 100ppm/°C Max. operating voltage: 200V |
на замовлення 10000 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||
|
|
MR12X6190FTL | Виробник : WALSIN |
Category: SMD resistors Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 619Ω; 250mW; ±1%; 100ppm/°C Mounting: SMD Case - mm: 3216 Case - inch: 1206 Type of resistor: thick film Power: 0.25W Resistance: 619Ω Tolerance: ±1% Temperature coefficient: 100ppm/°C Max. operating voltage: 200V кількість в упаковці: 5000 шт |
на замовлення 10000 шт: термін постачання 14-21 дні (днів) |
|
||||||
 |
MR12X6190FTL | Виробник : Walsin Technology Corporation |
Res Thick Film 1206 619 Ohm 1% 0.25W(1/4W) ±100ppm/°C Sulfur Resistant Pad SMD T/R Automotive AEC-Q200 |
на замовлення 10000 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|||||||
 |
MR12X6190FTL | Виробник : Walsin |
Thick Film Resistors - SMD 619 Ohms 200 V 250 mW (1/4 W) 1 % 1206 100 PPM / C AEC-Q200 |
товару немає в наявності |