MSASE105AB5474KFNA01 Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenDescription: CAP CER 0.47UF 16V X5R 0402
Tolerance: ±10%
Packaging: Cut Tape (CT)
Voltage - Rated: 16V
Package / Case: 0402 (1005 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: SMPS Filtering
Thickness (Max): 0.024" (0.60mm)
Capacitance: 0.47 µF
на замовлення 5398 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 40+ | 8.64 грн |
| 76+ | 4.41 грн |
| 110+ | 3.03 грн |
| 128+ | 2.45 грн |
| 500+ | 1.93 грн |
| 1000+ | 1.65 грн |
| 2500+ | 1.46 грн |
| 5000+ | 1.42 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис MSASE105AB5474KFNA01 Taiyo Yuden
Description: CAP CER 0.47UF 16V X5R 0402, Tolerance: ±10%, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 16V, Package / Case: 0402 (1005 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: SMPS Filtering, Thickness (Max): 0.024" (0.60mm), Capacitance: 0.47 µF.
Інші пропозиції MSASE105AB5474KFNA01 за ціною від 1.04 грн до 8.85 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
MSASE105AB5474KFNA01 | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 16V 0.47uF X5R 0402 10% |
на замовлення 25258 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
MSASE105AB5474KFNA01 | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.47UF 16V X5R 0402 Tolerance: ±10% Packaging: Tape & Reel (TR) Voltage - Rated: 16V Package / Case: 0402 (1005 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.039" L x 0.020" W (1.00mm x 0.50mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: SMPS Filtering Thickness (Max): 0.024" (0.60mm) Capacitance: 0.47 µF |
товару немає в наявності |