Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис NQ06W4F2401T5E Royalohm
Category: SMD resistors, Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 2.4kΩ; 250mW; ±1%; NQ; 200V, Type of resistor: thick film, Case - inch: 1206, Case - mm: 3216, Resistance: 2.4kΩ, Power: 0.25W, Tolerance: ±1%, Operating voltage: 200V, Temperature coefficient: 100ppm/°C, Operating temperature: -55...155°C, Max. overload voltage: 400V, Conform to the norm: AEC-Q200, Manufacturer series: NQ, Mounting: SMD.
Інші пропозиції NQ06W4F2401T5E
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
| NQ06W4F2401T5E | ROYALOHM |
Category: SMD resistorsDescription: Resistor: thick film; SMD; 1206; 2.4kΩ; 250mW; ±1%; NQ; 200V Type of resistor: thick film Case - inch: 1206 Case - mm: 3216 Resistance: 2.4kΩ Power: 0.25W Tolerance: ±1% Operating voltage: 200V Temperature coefficient: 100ppm/°C Operating temperature: -55...155°C Max. overload voltage: 400V Conform to the norm: AEC-Q200 Manufacturer series: NQ Mounting: SMD |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 75000 шт В кошику од. на суму грн. |
| NQ06W4F2401T5E |
![]() |
Виробник: ROYALOHM
Category: SMD resistors
Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 2.4kΩ; 250mW; ±1%; NQ; 200V
Type of resistor: thick film
Case - inch: 1206
Case - mm: 3216
Resistance: 2.4kΩ
Power: 0.25W
Tolerance: ±1%
Operating voltage: 200V
Temperature coefficient: 100ppm/°C
Operating temperature: -55...155°C
Max. overload voltage: 400V
Conform to the norm: AEC-Q200
Manufacturer series: NQ
Mounting: SMD
Category: SMD resistors
Description: Resistor: thick film; SMD; 1206; 2.4kΩ; 250mW; ±1%; NQ; 200V
Type of resistor: thick film
Case - inch: 1206
Case - mm: 3216
Resistance: 2.4kΩ
Power: 0.25W
Tolerance: ±1%
Operating voltage: 200V
Temperature coefficient: 100ppm/°C
Operating temperature: -55...155°C
Max. overload voltage: 400V
Conform to the norm: AEC-Q200
Manufacturer series: NQ
Mounting: SMD
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 75000 шт
В кошику
од. на суму грн.



