
P62BNL820M5ST Knowles Dielectric Labs

Description: MILLI-CAP - SMD MILLIMETER WAVE
Features: High Q, Low Loss, Low ESL, Epoxy Mountable
Packaging: Tape & Reel (TR)
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 0603 (1608 Metric)
Temperature Coefficient: BN
Size / Dimension: 0.058" L x 0.020" W (1.47mm x 0.51mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: General Purpose
Thickness (Max): 0.022" (0.56mm)
Part Status: Active
Capacitance: 82 pF
на замовлення 1100 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
100+ | 323.62 грн |
200+ | 298.40 грн |
300+ | 291.77 грн |
500+ | 266.93 грн |
700+ | 262.89 грн |
1000+ | 259.02 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис P62BNL820M5ST Knowles Dielectric Labs
Description: MILLI-CAP - SMD MILLIMETER WAVE, Features: High Q, Low Loss, Low ESL, Epoxy Mountable, Packaging: Tape & Reel (TR), Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0603 (1608 Metric), Temperature Coefficient: BN, Size / Dimension: 0.058" L x 0.020" W (1.47mm x 0.51mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Thickness (Max): 0.022" (0.56mm), Part Status: Active, Capacitance: 82 pF.
Інші пропозиції P62BNL820M5ST за ціною від 379.62 грн до 528.85 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
P62BNL820M5ST | Виробник : Knowles Dielectric Labs |
![]() Features: High Q, Low Loss, Low ESL, Epoxy Mountable Packaging: Cut Tape (CT) Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: BN Size / Dimension: 0.058" L x 0.020" W (1.47mm x 0.51mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Epoxy Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Thickness (Max): 0.022" (0.56mm) Part Status: Active Capacitance: 82 pF |
на замовлення 1457 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
![]() |
P62BNL820M5ST | Виробник : Knowles Dielectric Labs |
![]() |
товару немає в наявності |