PCMF3USB3B/CZ Nexperia USA Inc.
Виробник: Nexperia USA Inc.Description: CMC 6LN SMD ESD
Features: TVS Diode ESD Protection
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 15-UFBGA, WLCSP
Filter Type: Signal Line
Size / Dimension: 0.093" L x 0.046" W (2.37mm x 1.17mm)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Lines: 6
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Height (Max): 0.024" (0.60mm)
DC Resistance (DCR) (Max): 3Ohm (Typ)
на замовлення 548 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 4+ | 81.17 грн |
| 10+ | 63.68 грн |
| 25+ | 58.73 грн |
| 50+ | 51.84 грн |
| 100+ | 48.76 грн |
| 250+ | 44.97 грн |
| 500+ | 41.61 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис PCMF3USB3B/CZ Nexperia USA Inc.
Description: CMC 6LN SMD ESD, Features: TVS Diode ESD Protection, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 15-UFBGA, WLCSP, Filter Type: Signal Line, Size / Dimension: 0.093" L x 0.046" W (2.37mm x 1.17mm), Mounting Type: Surface Mount, Number of Lines: 6, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Height (Max): 0.024" (0.60mm), DC Resistance (DCR) (Max): 3Ohm (Typ).
Інші пропозиції PCMF3USB3B/CZ за ціною від 33.69 грн до 85.83 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
PCMF3USB3B/CZ | Виробник : Nexperia |
EMI Filter Circuits PCMF3USB3B/NAX000/NONE |
на замовлення 6671 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
PCMF3USB3B/CZ | Виробник : NEXPERIA |
EMI Filter RC-Circuit Flat Style SMD T/R |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
|
PCMF3USB3B/CZ | Виробник : Nexperia USA Inc. |
Description: CMC 6LN SMD ESD Features: TVS Diode ESD Protection Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 15-UFBGA, WLCSP Filter Type: Signal Line Size / Dimension: 0.093" L x 0.046" W (2.37mm x 1.17mm) Mounting Type: Surface Mount Number of Lines: 6 Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Height (Max): 0.024" (0.60mm) DC Resistance (DCR) (Max): 3Ohm (Typ) |
товару немає в наявності |