
RB088RSM15STL1 ROHM Semiconductor
на замовлення 7890 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
3+ | 115.99 грн |
10+ | 94.30 грн |
100+ | 63.28 грн |
500+ | 53.63 грн |
1000+ | 43.76 грн |
2000+ | 41.15 грн |
4000+ | 38.75 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис RB088RSM15STL1 ROHM Semiconductor
Description: DIODE SCHOTTKY 150V 10A TO277A, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: TO-277, 3-PowerDFN, Mounting Type: Surface Mount, Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io), Technology: Schottky, Current - Average Rectified (Io): 10A, Supplier Device Package: TO-277A, Operating Temperature - Junction: 175°C, Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 150 V, Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 880 mV @ 10 A, Current - Reverse Leakage @ Vr: 4.5 µA @ 150 V.
Інші пропозиції RB088RSM15STL1 за ціною від 41.19 грн до 141.29 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
RB088RSM15STL1 | Виробник : Rohm Semiconductor |
![]() Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: TO-277, 3-PowerDFN Mounting Type: Surface Mount Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) Technology: Schottky Current - Average Rectified (Io): 10A Supplier Device Package: TO-277A Operating Temperature - Junction: 175°C Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 150 V Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 880 mV @ 10 A Current - Reverse Leakage @ Vr: 4.5 µA @ 150 V |
на замовлення 2945 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
![]() |
RB088RSM15STL1 | Виробник : Rohm Semiconductor |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: TO-277, 3-PowerDFN Mounting Type: Surface Mount Speed: Fast Recovery =< 500ns, > 200mA (Io) Technology: Schottky Current - Average Rectified (Io): 10A Supplier Device Package: TO-277A Operating Temperature - Junction: 175°C Voltage - DC Reverse (Vr) (Max): 150 V Voltage - Forward (Vf) (Max) @ If: 880 mV @ 10 A Current - Reverse Leakage @ Vr: 4.5 µA @ 150 V |
товару немає в наявності |