
RCA0603332KFKEA VISHAY

Category: SMD resistors
Description: Resistor: thick film; 0603; 332kΩ; 100mW; ±1%; -55÷155°C; 100ppm/°C
Tolerance: ±1%
Case - inch: 0603
Case - mm: 1608
Operating temperature: -55...155°C
Power: 0.1W
Resistance: 332kΩ
Temperature coefficient: 100ppm/°C
Max. operating voltage: 75V
Type of resistor: thick film
Conform to the norm: AEC Q200
на замовлення 4900 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
320+ | 1.32 грн |
410+ | 0.93 грн |
470+ | 0.83 грн |
590+ | 0.65 грн |
1000+ | 0.59 грн |
3170+ | 0.28 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис RCA0603332KFKEA VISHAY
Category: SMD resistors, Description: Resistor: thick film; 0603; 332kΩ; 100mW; ±1%; -55÷155°C; 100ppm/°C, Tolerance: ±1%, Case - inch: 0603, Case - mm: 1608, Operating temperature: -55...155°C, Power: 0.1W, Resistance: 332kΩ, Temperature coefficient: 100ppm/°C, Max. operating voltage: 75V, Type of resistor: thick film, Conform to the norm: AEC Q200, кількість в упаковці: 10 шт.
Інші пропозиції RCA0603332KFKEA за ціною від 0.32 грн до 1.58 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
RCA0603332KFKEA | Виробник : VISHAY |
![]() Description: Resistor: thick film; 0603; 332kΩ; 100mW; ±1%; -55÷155°C; 100ppm/°C Tolerance: ±1% Case - inch: 0603 Case - mm: 1608 Operating temperature: -55...155°C Power: 0.1W Resistance: 332kΩ Temperature coefficient: 100ppm/°C Max. operating voltage: 75V Type of resistor: thick film Conform to the norm: AEC Q200 кількість в упаковці: 10 шт |
на замовлення 4900 шт: термін постачання 14-21 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
![]() |
RCA0603332KFKEA | Виробник : Vishay |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
![]() |
RCA0603332KFKEA | Виробник : Vishay |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
RCA0603332KFKEA | Виробник : Vishay / Draloric | Thick Film Resistors - SMD RCA0603 332K 1% 100 ET1 e3 |
товару немає в наявності |