RDER72A224K1K1H03B Murata Electronics
на замовлення 987 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 9+ | 43.22 грн |
| 16+ | 22.98 грн |
| 100+ | 17.45 грн |
| 500+ | 12.55 грн |
| 1000+ | 10.87 грн |
| 2500+ | 9.65 грн |
| 10000+ | 9.34 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис RDER72A224K1K1H03B Murata Electronics
Description: CAP CER 0.22UF 100V X7R RADIAL, Packaging: Bulk, Tolerance: ±10%, Lead Style: Formed Leads - Kinked, Voltage - Rated: 100V, Package / Case: Radial, Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.177" L x 0.124" W (4.50mm x 3.15mm), Mounting Type: Through Hole, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: General Purpose, Lead Spacing: 0.197" (5.00mm), Height - Seated (Max): 0.197" (5.00mm), Capacitance: 0.22 µF.
Інші пропозиції RDER72A224K1K1H03B за ціною від 26.79 грн до 44.71 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
RDER72A224K1K1H03B | Виробник : Murata Electronics |
 Description: CAP CER 0.22UF 100V X7R RADIALPackaging: Bulk Tolerance: ±10% Lead Style: Formed Leads - Kinked Voltage - Rated: 100V Package / Case: Radial Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.177" L x 0.124" W (4.50mm x 3.15mm) Mounting Type: Through Hole Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: General Purpose Lead Spacing: 0.197" (5.00mm) Height - Seated (Max): 0.197" (5.00mm) Capacitance: 0.22 µF |
на замовлення 130 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
| RDER72A224K1K1H03B | Виробник : Murata Electronics |
Cap Ceramic 0.22uF 100V X7R 10% Radial 5mm 125C Bulk |
товару немає в наявності |
||||||||
 |
RDER72A224K1K1H03B | Виробник : MURATA |
Category: MLCC THT capacitors Description: Capacitor: ceramic; 220nF; 100V; X7R; ±10%; THT; 5mm Type of capacitor: ceramic Capacitance: 0.22µF Operating voltage: 100V Dielectric: X7R Tolerance: ±10% Mounting: THT Operating temperature: -55...125°C Terminal pitch: 5mm Body dimensions: 4.5x3.5x3.15mm |
товару немає в наявності |