SDR03EZPF4R70 ROHM Semiconductor
на замовлення 5985 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 36+ | 9.95 грн |
| 112+ | 3.15 грн |
| 182+ | 1.68 грн |
| 1000+ | 1.52 грн |
| 5000+ | 1.37 грн |
| 10000+ | 1.07 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SDR03EZPF4R70 ROHM Semiconductor
Description: RES SMD 4.7 OHM 1% 0.3W 0603, Power (Watts): 0.3W, Tolerance: ±1%, Features: Pulse Withstanding, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 0603 (1608 Metric), Temperature Coefficient: ±200ppm/°C, Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm), Composition: Thick Film, Operating Temperature: -55°C ~ 155°C, Number of Terminations: 2, Supplier Device Package: 0603, Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm), Resistance: 4.7 Ohms.
Інші пропозиції SDR03EZPF4R70 за ціною від 1.88 грн до 11.54 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
SDR03EZPF4R70 | Виробник : Rohm Semiconductor |
Description: RES SMD 4.7 OHM 1% 0.3W 0603Power (Watts): 0.3W Tolerance: ±1% Features: Pulse Withstanding Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: ±200ppm/°C Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0603 Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm) Resistance: 4.7 Ohms |
на замовлення 2124 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
|
SDR03EZPF4R70 | Виробник : Rohm Semiconductor |
Description: RES SMD 4.7 OHM 1% 0.3W 0603Power (Watts): 0.3W Tolerance: ±1% Features: Pulse Withstanding Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: ±200ppm/°C Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Composition: Thick Film Operating Temperature: -55°C ~ 155°C Number of Terminations: 2 Supplier Device Package: 0603 Height - Seated (Max): 0.022" (0.55mm) Resistance: 4.7 Ohms |
товару немає в наявності |

