SMDID04100XA00MT00 WIMA

Description: CAP FILM 1UF 20% 100VDC 5040
Tolerance: ±20%
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 5040 (127102 Metric)
Mounting Type: Surface Mount
Operating Temperature: -55°C ~ 140°C
Applications: General Purpose
Termination: Solder Pads
Dielectric Material: Polyphenylene Sulfide (PPS), Metallized
Voltage Rating - AC: 63V
Voltage Rating - DC: 100V
Height - Seated (Max): 0.248" (6.30mm)
Part Status: Active
Capacitance: 1 µF
Size / Dimension: 0.500" L x 0.402" W (12.70mm x 10.20mm)
на замовлення 600 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
600+ | 163.15 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SMDID04100XA00MT00 WIMA
Description: CAP FILM 1UF 20% 100VDC 5040, Tolerance: ±20%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 5040 (127102 Metric), Mounting Type: Surface Mount, Operating Temperature: -55°C ~ 140°C, Applications: General Purpose, Termination: Solder Pads, Dielectric Material: Polyphenylene Sulfide (PPS), Metallized, Voltage Rating - AC: 63V, Voltage Rating - DC: 100V, Height - Seated (Max): 0.248" (6.30mm), Part Status: Active, Capacitance: 1 µF, Size / Dimension: 0.500" L x 0.402" W (12.70mm x 10.20mm).
Інші пропозиції SMDID04100XA00MT00 за ціною від 169.56 грн до 291.22 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
SMDID04100XA00MT00 | Виробник : WIMA |
![]() Tolerance: ±20% Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 5040 (127102 Metric) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -55°C ~ 140°C Applications: General Purpose Termination: Solder Pads Dielectric Material: Polyphenylene Sulfide (PPS), Metallized Voltage Rating - AC: 63V Voltage Rating - DC: 100V Height - Seated (Max): 0.248" (6.30mm) Part Status: Active Capacitance: 1 µF Size / Dimension: 0.500" L x 0.402" W (12.70mm x 10.20mm) |
на замовлення 728 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
![]() |
SMDID04100XA00MT00 | Виробник : WIMA |
![]() |
товару немає в наявності |