Технічний опис SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP.
Інші пропозиції SN74ABT18245ADGGR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments |
 Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 250 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT18245ADGGR |
|
на замовлення 15 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT18245ADGGR |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
Specialty Function Logic Scan Test Device
на замовлення 250 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)