Технічний опис SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP.
Інші пропозиції SN74ABT18245ADGGR за ціною від 435.61 грн до 955.20 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна |
||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments |
 Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 250 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||
| SN74ABT18245ADGGR |
|
на замовлення 15 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT18245ADGGR |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
Specialty Function Logic Scan Test Device
на замовлення 250 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 1+ | 955.20 грн |
| 10+ | 714.50 грн |
| 25+ | 595.76 грн |
| 100+ | 524.66 грн |
| 250+ | 499.12 грн |
| 500+ | 467.36 грн |
| 1000+ | 435.61 грн |