SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
на замовлення 60 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 44+ | 601.46 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT18245ADGGR Texas Instruments
Scan Test Device -40C to 85C 56-Pin TSSOP T/R.
Інші пропозиції SN74ABT18245ADGGR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT18245ADGGR |
 |
на замовлення 15 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||
 |
SN74ABT18245ADGGR | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 56-Pin TSSOP T/R |
товару немає в наявності |
|
|
|
SN74ABT18245ADGGR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
товару немає в наявності |
|
|
|
SN74ABT18245ADGGR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP |
товару немає в наявності |
|
 |
SN74ABT18245ADGGR | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
товару немає в наявності |