SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
Packaging: Bulk
Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 56-SSOP
на замовлення 5000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 41+ | 562.79 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT18245ADLR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 56-SSOP.
Інші пропозиції SN74ABT18245ADLR за ціною від 654.02 грн до 981.89 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT18245ADLR | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 141 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||
| SN74ABT18245ADLR |
|
на замовлення 987 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||||||||||||
 |
SN74ABT18245ADLR | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товару немає в наявності |
|||||||||||
| SN74ABT18245ADLR | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
SN74ABT18245ADLR Other logic integrated circuits |
товару немає в наявності |
||||||||||||
|
|
SN74ABT18245ADLR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 56-SSOP |
товару немає в наявності |
|||||||||||
|
|
SN74ABT18245ADLR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 56-SSOP |
товару немає в наявності |