SN74ABT18502PM Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT18502PM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74ABT18502PM
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT18502PM |
|
на замовлення 2121 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |