SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW Texas Instruments


suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 37 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
2+313.58 грн
Мінімальне замовлення: 2
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8245DW Texas Instruments

Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube.

Інші пропозиції SN74ABT8245DW за ціною від 285.07 грн до 629.02 грн

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна без ПДВ
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments getliterature.pdf Scan Test Device -40C to 85C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 650 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
25+314.67 грн
Мінімальне замовлення: 25
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 37 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
35+337.7 грн
Мінімальне замовлення: 35
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Burr Brown scbs124d.pdf Description: SN74ABT8245 SCAN TEST DEVICES WI
на замовлення 146 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
60+369.18 грн
Мінімальне замовлення: 60
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
75+485.54 грн
Мінімальне замовлення: 75
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
75+485.54 грн
Мінімальне замовлення: 75
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Specialty Function Logic Scan Test Device
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
1+553.01 грн
10+ 496.74 грн
25+ 412.58 грн
100+ 363.85 грн
250+ 349.16 грн
500+ 321.79 грн
1000+ 285.07 грн
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
на замовлення 3190 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна без ПДВ
1+629.02 грн
10+ 547.23 грн
25+ 521.74 грн
100+ 425.16 грн
250+ 406.05 грн
500+ 370.22 грн
1000+ 354.62 грн
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
товар відсутній
SN74ABT8245DW SN74ABT8245DW Виробник : Texas Instruments suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
товар відсутній
SN74ABT8245DW Виробник : TEXAS INSTRUMENTS suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf SN74ABT8245DW Other logic integrated circuits
товар відсутній