SN74ABT8245DW Texas Instruments
на замовлення 37 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 36+ | 353.19 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8245DW за ціною від 326.69 грн до 644.31 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 575 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 37 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 150 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 650 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOICPackaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supplier Device Package: 24-SOIC |
на замовлення 40 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |


