Технічний опис SN74ABT8245DW Texas Instruments
Category: Other logic integrated circuits, Description: IC: digital; bus transceiver; Ch: 8; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC; SMD, Mounting: SMD, Supply voltage: 4.5...5.5V DC, Type of integrated circuit: digital, Kind of output: 3-state, Operating temperature: -40...85°C, Technology: BiCMOS; TTL, Quiescent current: 38mA, Kind of package: tube, Case: SO24, Family: ABT, Kind of integrated circuit: bus transceiver, Number of channels: 8.
Інші пропозиції SN74ABT8245DW за ціною від 380.55 грн до 630.62 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 37 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 150 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 650 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
 |
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC Supplier Device Package: 24-SOIC Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Mounting Type: Surface Mount Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Packaging: Tube |
на замовлення 40 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
 |
SN74ABT8245DW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 37 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 36+ | 393.35 грн |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 150 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 150+ | 403.51 грн |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 650 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 411.41 грн |
| 100+ | 380.55 грн |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
на замовлення 40 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 588.90 грн |
| 10+ | 438.98 грн |
| 25+ | 406.95 грн |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 75+ | 630.62 грн |
| SN74ABT8245DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Device
Specialty Function Logic Scan Test Device
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)