SN74ABT8245DW Texas Instruments
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 2+ | 388.08 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DW Texas Instruments
Стандартна логіка, Uживл, В = 4,5...5,5, К-сть. л.е./тип л. е. = 1 8-бітне скануючий тестувальний пристрій з трансіверами шини, Тексп, °С = -40...+85,... Група товару: Інтегральні мікросхеми Корпус: SOICW-24 Од. вим: шт, кількість в упаковці: 25 шт.
Інші пропозиції SN74ABT8245DW за ціною від 286.55 грн до 622.17 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 37 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 150 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 650 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Device |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
 |
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supplier Device Package: 24-SOIC |
на замовлення 40 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
|
SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
| SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
SO-24 Група товару: Мікросхеми стандартної логіки Од. вим: шт |
товару немає в наявності |
||||||||||||||||||
| SN74ABT8245DW | Виробник : Texas Instruments |
Стандартна логіка, Uживл, В = 4,5...5,5, К-сть. л.е./тип л. е. = 1 8-бітне скануючий тестувальний пристрій з трансіверами шини, Тексп, °С = -40...+85,... Група товару: Інтегральні мікросхеми Корпус: SOICW-24 Од. вим: шт кількість в упаковці: 25 шт |
товару немає в наявності |