SN74ABT8245DWG4 Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Bulk
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DWG4 Texas Instruments
Category: Other logic integrated circuits, Description: IC: digital; bus transceiver; Ch: 8; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC; SMD, Mounting: SMD, Supply voltage: 4.5...5.5V DC, Type of integrated circuit: digital, Kind of output: 3-state, Operating temperature: -40...85°C, Technology: BiCMOS; TTL, Quiescent current: 38mA, Kind of package: tube, Case: SO24, Family: ABT, Kind of integrated circuit: bus transceiver, Number of channels: 8.
Інші пропозиції SN74ABT8245DWG4
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT8245DWG4 | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Scan Test Devices |
на замовлення 75 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT8245DWG4 |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Scan Test Devices
Specialty Function Logic Scan Test Devices
на замовлення 75 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)