SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Bulk
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8245DWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC, Supplier Device Package: 24-SOIC, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceivers, Number of Bits: 8, Mounting Type: Surface Mount, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Packaging: Tape & Reel (TR).
Інші пропозиції SN74ABT8245DWR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74ABT8245DWR |
|
на замовлення 928 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |