SN74ABT8543DW Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8543DW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8543DW
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT8543DW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver |
на замовлення 39 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABT8543DW |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver
Specialty Function Logic Device w/Octal Rgstr Bus Transceiver
на замовлення 39 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)