SN74ABT8652DWR

SN74ABT8652DWR Texas Instruments


scbs122f.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
на замовлення 1000 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
32+702.40 грн
Мінімальне замовлення: 32
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8652DWR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.

Інші пропозиції SN74ABT8652DWR

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74ABT8652DWR SN74ABT8652DWR Виробник : Texas Instruments scbs122f.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
товару немає в наявності
В кошику  од. на суму  грн.