
SN74ABT8652DWR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
на замовлення 1000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
32+ | 702.40 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8652DWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8652DWR
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
SN74ABT8652DWR | Виробник : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 28-SOIC |
товару немає в наявності |