SN74ABT8952DW Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
на замовлення 5920 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 45+ | 510.48 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABT8952DW Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.
Інші пропозиції SN74ABT8952DW
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74ABT8952DW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товару немає в наявності |
|
|
|
SN74ABT8952DW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 28-SOIC |
товару немає в наявності |