Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74ABT8952DW
SN74ABT8952DW

SN74ABT8952DW Texas Instruments

SN54ABT8952_SN74ABT8952.pdf
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Supplier Device Package: 28-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
на замовлення 5920 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
45+494.78 грн
Мінімальне замовлення: 45 шт
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74ABT8952DW Texas Instruments

Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC, Supplier Device Package: 28-SOIC, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Number of Bits: 8, Mounting Type: Surface Mount, Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Packaging: Tube.

Інші пропозиції SN74ABT8952DW

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74ABT8952DW SN74ABT8952DW Texas Instruments SN54ABT8952_SN74ABT8952.pdf Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
товару немає в наявності
 Мінімальне замовлення: 60 шт
В кошику  од. на суму  грн.
SN74ABT8952DW SN54ABT8952_SN74ABT8952.pdf
SN74ABT8952DW
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 60 шт
В кошику  од. на суму  грн.