SN74ABTH182646APM Texas Instruments
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 17+ | 1162.83 грн |
Товар під замовлення
Немає на нашому складі — привозимо зі складу постачальника після оформлення замовлення.
термін постачання:
21-31 дні (днів)
Мінімальна партія:
17 шт
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABTH182646APM Texas Instruments
Category: Other logic integrated circuits, Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC, Type of integrated circuit: digital, Kind of integrated circuit: register; transceiver, Case: LQFP64, Mounting: SMD, Operating temperature: -40...85°C, Supply voltage: 4.5...5.5V DC, Number of channels: 2, Technology: BiCMOS; TTL, Family: ABT, Quiescent current: 24mA, Kind of package: tube.
Інші пропозиції SN74ABTH182646APM
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74ABTH182646APM | Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 160 шт В кошику од. на суму грн. |
 |
SN74ABTH182646APM | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trns cvr & Register |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 160 шт В кошику од. на суму грн. |
 |
SN74ABTH182646APM | TEXAS INSTRUMENTS |
Category: Other logic integrated circuits Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC Type of integrated circuit: digital Kind of integrated circuit: register; transceiver Case: LQFP64 Mounting: SMD Operating temperature: -40...85°C Supply voltage: 4.5...5.5V DC Number of channels: 2 Technology: BiCMOS; TTL Family: ABT Quiescent current: 24mA Kind of package: tube |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 100 шт В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABTH182646APM | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 160 шт В кошику од. на суму грн. | |
| SN74ABTH182646APM | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 160 шт В кошику од. на суму грн. |
| SN74ABTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Description: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 160 шт
В кошику
од. на суму грн.
| SN74ABTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trns cvr & Register
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trns cvr & Register
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 160 шт
В кошику
од. на суму грн.
| SN74ABTH182646APM |
|
Виробник: TEXAS INSTRUMENTS
Category: Other logic integrated circuits
Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC
Type of integrated circuit: digital
Kind of integrated circuit: register; transceiver
Case: LQFP64
Mounting: SMD
Operating temperature: -40...85°C
Supply voltage: 4.5...5.5V DC
Number of channels: 2
Technology: BiCMOS; TTL
Family: ABT
Quiescent current: 24mA
Kind of package: tube
Category: Other logic integrated circuits
Description: IC: digital; register,transceiver; Ch: 2; BiCMOS,TTL; 4.5÷5.5VDC
Type of integrated circuit: digital
Kind of integrated circuit: register; transceiver
Case: LQFP64
Mounting: SMD
Operating temperature: -40...85°C
Supply voltage: 4.5...5.5V DC
Number of channels: 2
Technology: BiCMOS; TTL
Family: ABT
Quiescent current: 24mA
Kind of package: tube
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 100 шт
В кошику
од. на суму грн.
| SN74ABTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 160 шт
В кошику
од. на суму грн.
| SN74ABTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 160 шт
В кошику
од. на суму грн.