
SN74ABTH18646APM Texas Instruments

Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
на замовлення 6818 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
23+ | 1001.34 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABTH18646APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74ABTH18646APM за ціною від 813.66 грн до 1211.05 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
![]() |
SN74ABTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
на замовлення 119 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
![]() |
SN74ABTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
на замовлення 127 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||
![]() |
SN74ABTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
![]() |
товару немає в наявності |
|||||||||
SN74ABTH18646APM | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
![]() |
товару немає в наявності |