SN74ABTH18652APM Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
на замовлення 6257 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 25+ | 906.01 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74ABTH18652APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74ABTH18652APM
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74ABTH18652APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: Scan Test Device With Transceivers And Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
товару немає в наявності |
|
 |
SN74ABTH18652APM | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/18-Bit Trns cvr & Register |
товару немає в наявності |