на замовлення 50 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 436.17 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8240ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Інші пропозиції SN74BCT8240ADW за ціною від 455.46 грн до 455.46 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8240ADW | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOICPackaging: Bulk Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
на замовлення 1213 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||
 |
SN74BCT8240ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||
|
|
SN74BCT8240ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товар відсутній |
|||||
|
|
SN74BCT8240ADW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
товар відсутній |
|||||
 |
SN74BCT8240ADW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Inverting Buffers |
товар відсутній |