Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8240ADWR
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR Texas Instruments

sn54bct8240a.pdf
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Bulk
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
на замовлення 30000 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
КількістьЦіна
43+512.31 грн
Мінімальне замовлення: 43 шт
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8240ADWR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.

Інші пропозиції SN74BCT8240ADWR

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74BCT8240ADWR SN74BCT8240ADWR Texas Instruments sn54bct8240a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
товару немає в наявності
 Мінімальне замовлення: 2000 шт
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8240ADWR sn54bct8240a.pdf
SN74BCT8240ADWR
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 2000 шт
В кошику  од. на суму  грн.