SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 33+ | 671.92 грн |
Товар під замовлення
Немає на нашому складі — привозимо зі складу постачальника після оформлення замовлення.
термін постачання:
21-31 дні (днів)
Мінімальна партія:
33 шт
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).
Інші пропозиції SN74BCT8244ADW за ціною від 660.01 грн до 1486.34 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|
SN74BCT8244ADW | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
на замовлення 118 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Buffe rs |
на замовлення 825 шт: термін постачання 31-40 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | TEXAS INSTRUMENTS |
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24 tariffCode: 85423990 rohsCompliant: YES Bauform - Logikbaustein: SOIC hazardous: false rohsPhthalatesCompliant: YES MSL: MSL 1 - unbegrenzt usEccn: EAR99 Betriebstemperatur, min.: 0°C Versorgungsspannung, min.: 4.5V Logiktyp: Scantestbaustein euEccn: NLR Anzahl der Pins: 24Pin(s) Produktpalette: - productTraceability: Yes-Date/Lot Code Versorgungsspannung, max.: 5.5V Betriebstemperatur, max.: 70°C SVHC: No SVHC (17-Jan-2023) |
на замовлення 5 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74BCT8244ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 118 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1073.68 грн |
| 10+ | 817.06 грн |
| 25+ | 762.87 грн |
| 100+ | 660.01 грн |
| SN74BCT8244ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Device w/Octal Buffe rs
Specialty Function Logic Device w/Octal Buffe rs
на замовлення 825 шт:
термін постачання 31-40 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1486.34 грн |
| 10+ | 1168.98 грн |
| 25+ | 970.71 грн |
| 100+ | 897.14 грн |
| 250+ | 859.60 грн |
| 500+ | 841.58 грн |
| 1000+ | 826.57 грн |
| SN74BCT8244ADW |
|
Виробник: TEXAS INSTRUMENTS
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24
tariffCode: 85423990
rohsCompliant: YES
Bauform - Logikbaustein: SOIC
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
MSL: MSL 1 - unbegrenzt
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: 0°C
Versorgungsspannung, min.: 4.5V
Logiktyp: Scantestbaustein
euEccn: NLR
Anzahl der Pins: 24Pin(s)
Produktpalette: -
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Versorgungsspannung, max.: 5.5V
Betriebstemperatur, max.: 70°C
SVHC: No SVHC (17-Jan-2023)
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24
tariffCode: 85423990
rohsCompliant: YES
Bauform - Logikbaustein: SOIC
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
MSL: MSL 1 - unbegrenzt
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: 0°C
Versorgungsspannung, min.: 4.5V
Logiktyp: Scantestbaustein
euEccn: NLR
Anzahl der Pins: 24Pin(s)
Produktpalette: -
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Versorgungsspannung, max.: 5.5V
Betriebstemperatur, max.: 70°C
SVHC: No SVHC (17-Jan-2023)
на замовлення 5 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)