SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Виробник: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 47 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 33+ | 665.64 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).
Інші пропозиції SN74BCT8244ADW за ціною від 494.34 грн до 1063.63 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Buffers |
на замовлення 78 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24 tariffCode: 85423990 rohsCompliant: YES Bauform - Logikbaustein: SOIC hazardous: false rohsPhthalatesCompliant: YES MSL: MSL 1 - unbegrenzt usEccn: EAR99 Betriebstemperatur, min.: 0°C Versorgungsspannung, min.: 4.5V Logiktyp: Scantestbaustein euEccn: NLR Anzahl der Pins: 24Pin(s) Produktpalette: - productTraceability: Yes-Date/Lot Code Versorgungsspannung, max.: 5.5V Betriebstemperatur, max.: 70°C SVHC: No SVHC (17-Jan-2023) |
на замовлення 5 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
|
|
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
на замовлення 118 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
| SN74BCT8244ADW |
|
на замовлення 1852 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||||||||||||
 |
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |
|||||||||||
|
|
SN74BCT8244ADW | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
товару немає в наявності |