Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8244ADW
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW Texas Instruments

sn54bct8244a.pdf Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device
на замовлення 325 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
25+580.21 грн
Мінімальне замовлення: 25
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8244ADW Texas Instruments

Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).

Інші пропозиції SN74BCT8244ADW за ціною від 521.60 грн до 1079.12 грн

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 47 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
33+675.33 грн
Мінімальне замовлення: 33
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Specialty Function Logic Device w/Octal Buffers
на замовлення 78 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
Кількість Ціна
1+742.43 грн
10+600.68 грн
25+521.60 грн
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : TEXAS INSTRUMENTS sn54bct8244a.pdf Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24
tariffCode: 85423990
rohsCompliant: YES
Bauform - Logikbaustein: SOIC
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
MSL: MSL 1 - unbegrenzt
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: 0°C
Versorgungsspannung, min.: 4.5V
Logiktyp: Scantestbaustein
euEccn: NLR
Anzahl der Pins: 24Pin(s)
Produktpalette: -
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Versorgungsspannung, max.: 5.5V
Betriebstemperatur, max.: 70°C
SVHC: No SVHC (17-Jan-2023)
на замовлення 5 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
1+1018.40 грн
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 118 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
1+1079.12 грн
10+821.20 грн
25+766.73 грн
100+663.35 грн
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW sn54bct8244a.pdf
на замовлення 1852 шт:
термін постачання 14-28 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
товару немає в наявності
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Виробник : Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
товару немає в наявності
В кошику  од. на суму  грн.