Продукція > TEXAS INSTRUMENTS > SN74BCT8244ADW
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW Texas Instruments

sn54bct8244a.pdf
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 47 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
КількістьЦіна без ПДВ
33+657.59 грн
Мінімальне замовлення: 33 шт
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8244ADW Texas Instruments

Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).

Інші пропозиції SN74BCT8244ADW за ціною від 645.93 грн до 1050.77 грн

Фото Назва Виробник Інформація Доступність Ціна без ПДВ
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW Texas Instruments sn54bct8244a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
на замовлення 118 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
1+1050.77 грн
10+799.64 грн
25+746.60 грн
100+645.93 грн
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW SN74BCT8244ADW TEXAS INSTRUMENTS sn54bct8244a.pdf Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24
tariffCode: 85423990
rohsCompliant: YES
Bauform - Logikbaustein: SOIC
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
MSL: MSL 1 - unbegrenzt
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: 0°C
Versorgungsspannung, min.: 4.5V
Logiktyp: Scantestbaustein
euEccn: NLR
Anzahl der Pins: 24Pin(s)
Produktpalette: -
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Versorgungsspannung, max.: 5.5V
Betriebstemperatur, max.: 70°C
SVHC: No SVHC (17-Jan-2023)
на замовлення 5 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW sn54bct8244a.pdf
на замовлення 1852 шт:
термін постачання 14-28 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW sn54bct8244a.pdf
SN74BCT8244ADW
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Supplier Device Package: 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
на замовлення 118 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
КількістьЦіна без ПДВ
1+1050.77 грн
10+799.64 грн
25+746.60 грн
100+645.93 грн
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW sn54bct8244a.pdf
SN74BCT8244ADW
Виробник: TEXAS INSTRUMENTS
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24
tariffCode: 85423990
rohsCompliant: YES
Bauform - Logikbaustein: SOIC
hazardous: false
rohsPhthalatesCompliant: YES
MSL: MSL 1 - unbegrenzt
usEccn: EAR99
Betriebstemperatur, min.: 0°C
Versorgungsspannung, min.: 4.5V
Logiktyp: Scantestbaustein
euEccn: NLR
Anzahl der Pins: 24Pin(s)
Produktpalette: -
productTraceability: Yes-Date/Lot Code
Versorgungsspannung, max.: 5.5V
Betriebstemperatur, max.: 70°C
SVHC: No SVHC (17-Jan-2023)
на замовлення 5 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8244ADW sn54bct8244a.pdf
на замовлення 1852 шт:
термін постачання 14-28 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.