SN74BCT8244ADWR Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8244ADWR Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Buffers, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Інші пропозиції SN74BCT8244ADWR
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74BCT8244ADWR | Texas Instruments |
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Мікросхеми стандартної логіки |
товару немає в наявності |
В кошику од. на суму грн. | |
|
SN74BCT8244ADWR | Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOICPackaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
товару немає в наявності |
Мінімальне замовлення: 2000 шт В кошику од. на суму грн. |
| SN74BCT8244ADWR |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Мікросхеми стандартної логіки
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Мікросхеми стандартної логіки
товару немає в наявності
В кошику
од. на суму грн.
| SN74BCT8244ADWR |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
товару немає в наявності
Мінімальне замовлення: 2000 шт
В кошику
од. на суму грн.


