SN74BCT8373ADW Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 41+ | 534.95 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8373ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Інші пропозиції SN74BCT8373ADW
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8373ADW | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOICPackaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
товару немає в наявності |
|
|
SN74BCT8373ADW | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ e Latches |
товару немає в наявності |
|
| SN74BCT8373ADW | Виробник : TEXAS INSTRUMENTS |
Category: Other logic integrated circuitsDescription: IC: digital; Ch: 8; CMOS; SMD; SOIC24; OUT: 3-state Type of integrated circuit: digital Number of channels: 8 Mounting: SMD Case: SOIC24 Operating temperature: 0...70°C Kind of output: 3-state Technology: CMOS |
товару немає в наявності |
