SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR Texas Instruments


sn54bct8373a.pdf Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
на замовлення 26428 шт:

термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість Ціна
86+256.92 грн
Мінімальне замовлення: 86
В кошику  од. на суму  грн.
Відгуки про товар
Написати відгук

Технічний опис SN74BCT8373ADWR Texas Instruments

Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.

Інші пропозиції SN74BCT8373ADWR

Фото Назва Виробник Інформація Доступність
Ціна
SN74BCT8373ADWR Виробник : TEXAS INST sn54bct8373a.pdf N/A
на замовлення 3127 шт:
термін постачання 14-28 дні (днів)
В кошику  од. на суму  грн.
SN74BCT8373ADWR SN74BCT8373ADWR Виробник : Texas Instruments sn54bct8373a.pdf Description: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Packaging: Tape & Reel (TR)
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Latches
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
товару немає в наявності
В кошику  од. на суму  грн.