Технічний опис SN74BCT8374ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Number of Bits: 8, Mounting Type: Surface Mount, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Packaging: Tube, Supplier Device Package: 24-SOIC, Part Status: Active.
Інші пропозиції SN74BCT8374ADW за ціною від 652.67 грн до 922.06 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOICSupply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops Number of Bits: 8 Mounting Type: Surface Mount Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Packaging: Tube Supplier Device Package: 24-SOIC Part Status: Active |
на замовлення 34 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
 |
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop |
на замовлення 68 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. | ||||||
 |
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 25 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
Мінімальне замовлення: 25 шт В кошику од. на суму грн. | ||||||
| SN74BCT8374ADW |
|
на замовлення 25 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
Supplier Device Package: 24-SOIC
Part Status: Active
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Number of Bits: 8
Mounting Type: Surface Mount
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Packaging: Tube
Supplier Device Package: 24-SOIC
Part Status: Active
на замовлення 34 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 922.06 грн |
| 10+ | 699.56 грн |
| 25+ | 652.67 грн |
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
на замовлення 68 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 25 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)