SN74BCT8374ADW Texas Instruments
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 550.73 грн |
Товар під замовлення
Немає на нашому складі — привозимо зі складу постачальника після оформлення замовлення.
термін постачання:
21-31 дні (днів)
Мінімальна партія:
25 шт
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8374ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC, Part Status: Active.
Інші пропозиції SN74BCT8374ADW за ціною від 705.70 грн до 1221.83 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOICPackaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC Part Status: Active |
на замовлення 28 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
 |
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop |
на замовлення 68 шт: термін постачання 31-40 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74BCT8374ADW | Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
на замовлення 25 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
Мінімальне замовлення: 25 шт В кошику од. на суму грн. |
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Part Status: Active
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
Packaging: Tube
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
Part Status: Active
на замовлення 28 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1140.19 грн |
| 10+ | 870.21 грн |
| 25+ | 813.37 грн |
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop
на замовлення 68 шт:
термін постачання 31-40 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1221.83 грн |
| 10+ | 954.87 грн |
| 25+ | 705.70 грн |
| SN74BCT8374ADW |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube
на замовлення 25 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)