SN74BCT8374ANT Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
Packaging: Tube
Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Mounting Type: Through Hole
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-PDIP
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74BCT8374ANT Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP, Packaging: Tube, Package / Case: 24-DIP (0.300", 7.62mm), Mounting Type: Through Hole, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-PDIP.
Інші пропозиції SN74BCT8374ANT
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
| SN74BCT8374ANT |
|
на замовлення 4301 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
В кошику од. на суму грн. |