SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
на замовлення 1840 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 1+ | 599.09 грн |
| 10+ | 494.08 грн |
| 25+ | 402.42 грн |
| 100+ | 367.11 грн |
| 250+ | 353.86 грн |
| 500+ | 336.21 грн |
| 1000+ | 329.59 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-TSSOP.
Інші пропозиції SN74LVTH182512DGGR за ціною від 333.08 грн до 628.69 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOPPackaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
на замовлення 1536 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
| SN74LVTH182512DGGR |
|
на замовлення 1997 шт: термін постачання 14-28 дні (днів) |
|||||||||||||||||||
 |
SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device |
товару немає в наявності |
|||||||||||||||||
|
|
SN74LVTH182512DGGR | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
товару немає в наявності |