SN74LVTH182646APM Texas Instruments
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 24+ | 995.19 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH182646APM Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray.
Інші пропозиції SN74LVTH182646APM за ціною від 1091.47 грн до 1284.72 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 3040 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товару немає в наявності |
|||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
товару немає в наявності |
|||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
товару немає в наявності |
|||||||||
|
SN74LVTH182646APM | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 18bit ABT 3.3V |
товару немає в наявності |


