Технічний опис SN74LVTH182646APM Texas Instruments
Category: Integrated circuits - others, Description: IC: digital; register; LQFP64; -40÷85°C; 3.3V; OUT: 3-state; CMOS, Type of integrated circuit: digital, Kind of integrated circuit: register, Case: LQFP64, Mounting: SMD, Operating temperature: -40...85°C, Supply voltage: 3.3V, Number of channels: 18, Kind of output: 3-state, Technology: CMOS, Family: LVT, Kind of gate: AND.
Інші пропозиції SN74LVTH182646APM за ціною від 1106.29 грн до 1302.16 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments |
 Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 160 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||
|
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 3040 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
| SN74LVTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
на замовлення 160 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 160+ | 1106.29 грн |
| SN74LVTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
на замовлення 160 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 160+ | 1106.29 грн |
| SN74LVTH182646APM |
|
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
на замовлення 3040 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 160+ | 1302.16 грн |
| 320+ | 1253.15 грн |
| 480+ | 1235.46 грн |