SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 25+ | 900.07 грн |
Товар під замовлення
Немає на нашому складі — привозимо зі складу постачальника після оформлення замовлення.
термін постачання:
21-31 дні (днів)
Мінімальна партія:
25 шт
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74LVTH18646APM за ціною від 811.39 грн до 1650.97 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація | Доступність | Ціна без ПДВ | ||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFPPackaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
на замовлення 305 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments |
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit T rnscvr & Register |
на замовлення 98 шт: термін постачання 31-40 дні (днів) |
|
||||||||||||
| SN74LVTH18646APM | Texas Instruments |
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray |
на замовлення 95 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
Мінімальне замовлення: 95 шт В кошику од. на суму грн. |
| SN74LVTH18646APM |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Tray
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Tray
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
на замовлення 305 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1332.84 грн |
| 10+ | 1020.84 грн |
| 25+ | 955.33 грн |
| 160+ | 811.39 грн |
| SN74LVTH18646APM |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit T rnscvr & Register
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit T rnscvr & Register
на замовлення 98 шт:
термін постачання 31-40 дні (днів)
| Кількість | Ціна без ПДВ |
|---|---|
| 1+ | 1650.97 грн |
| 10+ | 1304.43 грн |
| 25+ | 1063.35 грн |
| 100+ | 966.81 грн |
| 250+ | 940.49 грн |
| 480+ | 920.01 грн |
| SN74LVTH18646APM |
![]() |
Виробник: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
Scan Test Device -40°C to 85°C 64-Pin LQFP Tray
на замовлення 95 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)



