SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Виробник: Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
на замовлення 5298 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна без ПДВ |
---|---|
25+ | 815.51 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74LVTH18646APM за ціною від 721.87 грн до 1301.35 грн
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна без ПДВ | ||||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
на замовлення 305 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
|||||||||||||||||
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments | Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register |
на замовлення 32 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
|||||||||||||||||
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments | Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray |
товар відсутній |