SN74LVTH18646APM Texas Instruments
на замовлення 1280 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 160+ | 853.14 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис SN74LVTH18646APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
Інші пропозиції SN74LVTH18646APM за ціною від 856.98 грн до 1559.55 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFPPackaging: Bulk Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
на замовлення 5017 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
|
|
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) |
на замовлення 305 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||
 |
SN74LVTH18646APM | Виробник : Texas Instruments |
Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit T rnscvr & Register |
на замовлення 98 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|