Технічний опис SNJ54BCT8240AJT TI
Description: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF, Packaging: Tube, Package / Case: 24-CDIP (0.300", 7.62mm), Mounting Type: Through Hole, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-CDIP.
Інші пропозиції SNJ54BCT8240AJT
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
 |
SNJ54BCT8240AJT | Виробник : Texas Instruments |
 Scan Test Device -40C to 85C 24-Pin CDIP Tube |
товару немає в наявності |
|
 |
SNJ54BCT8240AJT | Виробник : Texas Instruments |
Description: SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF Packaging: Tube Package / Case: 24-CDIP (0.300", 7.62mm) Mounting Type: Through Hole Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-CDIP |
товару немає в наявності |