UMF316B7224MLHT Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenDescription: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206
Packaging: Cut Tape (CT)
Tolerance: ±20%
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 1206 (3216 Metric)
Temperature Coefficient: X7R
Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 125°C
Applications: Automotive, SMPS Filtering
Ratings: AEC-Q200
Thickness (Max): 0.071" (1.80mm)
Part Status: Not For New Designs
Capacitance: 0.22 µF
на замовлення 1269 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 10+ | 32.63 грн |
| 17+ | 18.39 грн |
| 50+ | 13.32 грн |
| 100+ | 11.03 грн |
| 500+ | 8.53 грн |
| 1000+ | 7.75 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис UMF316B7224MLHT Taiyo Yuden
Description: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±20%, Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 1206 (3216 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Automotive, SMPS Filtering, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.071" (1.80mm), Part Status: Not For New Designs, Capacitance: 0.22 µF.
Інші пропозиції UMF316B7224MLHT
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
|---|---|---|---|---|---|
|
|
UMF316B7224MLHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.22UF 50V X7R 1206 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±20% Voltage - Rated: 50V Package / Case: 1206 (3216 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.126" L x 0.063" W (3.20mm x 1.60mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive, SMPS Filtering Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.071" (1.80mm) Part Status: Not For New Designs Capacitance: 0.22 µF |
товару немає в наявності |
|
 |
UMF316B7224MLHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 963-MAASU31LSB7224MT RPLCMT PN 50V 0.22uF X7R 1206 AEC-Q200 |
товару немає в наявності |