UMK107B7152KAHT Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenMultilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT 963-MCASU168SB7152KT RPLCMT PN 50V 1500pF X7R 0603 AEC-Q200
на замовлення 849 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 39+ | 8.22 грн |
| 103+ | 3.07 грн |
| 125+ | 2.19 грн |
| 500+ | 1.71 грн |
| 1000+ | 1.51 грн |
| 4000+ | 1.03 грн |
| 8000+ | 0.82 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис UMK107B7152KAHT Taiyo Yuden
Description: CAP CER 1500PF 50V X7R 0603, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±10%, Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0603 (1608 Metric), Temperature Coefficient: X7R, Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 125°C, Applications: Automotive, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.035" (0.90mm), Capacitance: 1500 pF.
Інші пропозиції UMK107B7152KAHT за ціною від 1.63 грн до 8.47 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
UMK107B7152KAHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 1500PF 50V X7R 0603 Packaging: Cut Tape (CT) Tolerance: ±10% Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.035" (0.90mm) Capacitance: 1500 pF |
на замовлення 3900 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||
|
|
UMK107B7152KAHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 1500PF 50V X7R 0603 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±10% Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0603 (1608 Metric) Temperature Coefficient: X7R Size / Dimension: 0.063" L x 0.031" W (1.60mm x 0.80mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 125°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.035" (0.90mm) Capacitance: 1500 pF |
товару немає в наявності |