-1,45mm.jpg "UMK212BJ224KGHT")
UMK212BJ224KGHT Taiyo Yuden
Виробник: Taiyo YudenDescription: CAP CER 0.22UF 50V X5R 0805
Tolerance: ±10%
Packaging: Cut Tape (CT)
Voltage - Rated: 50V
Package / Case: 0805 (2012 Metric)
Temperature Coefficient: X5R
Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm)
Mounting Type: Surface Mount, MLCC
Operating Temperature: -55°C ~ 85°C
Applications: Automotive
Ratings: AEC-Q200
Thickness (Max): 0.053" (1.35mm)
Capacitance: 0.22 µF
на замовлення 1647 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 27+ | 11.94 грн |
| 47+ | 6.59 грн |
| 100+ | 4.05 грн |
| 1000+ | 2.58 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис UMK212BJ224KGHT Taiyo Yuden
Description: CAP CER 0.22UF 50V X5R 0805, Packaging: Tape & Reel (TR), Tolerance: ±10%, Voltage - Rated: 50V, Package / Case: 0805 (2012 Metric), Temperature Coefficient: X5R, Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm), Mounting Type: Surface Mount, MLCC, Operating Temperature: -55°C ~ 85°C, Applications: Automotive, Ratings: AEC-Q200, Thickness (Max): 0.053" (1.35mm), Capacitance: 0.22 µF.
Інші пропозиції UMK212BJ224KGHT за ціною від 1.69 грн до 13.56 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
UMK212BJ224KGHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Multilayer Ceramic Capacitors MLCC - SMD/SMT RPLCMT PN 963-MCASU21GSB5224KT 50V 0.22uF X5R 0805 10 % |
на замовлення 7290 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
||||||||||||||||
|
|
UMK212BJ224KGHT | Виробник : Taiyo Yuden |
Description: CAP CER 0.22UF 50V X5R 0805 Packaging: Tape & Reel (TR) Tolerance: ±10% Voltage - Rated: 50V Package / Case: 0805 (2012 Metric) Temperature Coefficient: X5R Size / Dimension: 0.079" L x 0.049" W (2.00mm x 1.25mm) Mounting Type: Surface Mount, MLCC Operating Temperature: -55°C ~ 85°C Applications: Automotive Ratings: AEC-Q200 Thickness (Max): 0.053" (1.35mm) Capacitance: 0.22 µF |
товару немає в наявності |