VEMD4200FX01 Vishay Semiconductors
на замовлення 1790 шт:
термін постачання 21-30 дні (днів)
| Кількість | Ціна |
|---|---|
| 9+ | 40.77 грн |
| 11+ | 32.40 грн |
| 100+ | 26.56 грн |
| 500+ | 23.62 грн |
| 1000+ | 21.63 грн |
| 3000+ | 19.94 грн |
| 9000+ | 18.91 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис VEMD4200FX01 Vishay Semiconductors
Description: SENSOR OPT 540NMAMB 0805, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 0805 (2012 Metric), Wavelength: 540nm, Mounting Type: Surface Mount, Type: Ambient, Operating Temperature: -40°C ~ 110°C, Supplier Device Package: 0805, Proximity Detection: No, Grade: Automotive, Qualification: AEC-Q101.
Інші пропозиції VEMD4200FX01 за ціною від 21.79 грн до 45.79 грн
| Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна | ||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
 |
VEMD4200FX01 | Виробник : Vishay Semiconductor Opto Division |
 Description: SENSOR OPT 540NMAMB 0805Packaging: Cut Tape (CT) Package / Case: 0805 (2012 Metric) Wavelength: 540nm Mounting Type: Surface Mount Type: Ambient Operating Temperature: -40°C ~ 110°C Supplier Device Package: 0805 Proximity Detection: No Grade: Automotive Qualification: AEC-Q101 |
на замовлення 2274 шт: термін постачання 21-31 дні (днів) |
|
||||||||||||||||||
| VEMD4200FX01 | Виробник : Vishay |
Dimensions: 2x1,25x0,7mm; voltage: 20V Viewing angle: 55°; spectral peak: 540nm; operating temperature: -40°C ~ 110°C Ambient Light Sensor VEMD4200FX01 VISHAY CZ VEMD4200FX01 кількість в упаковці: 2 шт |
на замовлення 50 шт: термін постачання 28-31 дні (днів) |
|
|||||||||||||||||||
|
|
VEMD4200FX01 | Виробник : Vishay Semiconductor Opto Division |
Description: SENSOR OPT 540NMAMB 0805 Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 0805 (2012 Metric) Wavelength: 540nm Mounting Type: Surface Mount Type: Ambient Operating Temperature: -40°C ~ 110°C Supplier Device Package: 0805 Proximity Detection: No Grade: Automotive Qualification: AEC-Q101 |
товару немає в наявності |