
VLS3015T-1R5N1R6 TDK Corporation

Description: FIXED IND 1.5UH 1.6A 74 MOHM SMD
Tolerance: ±30%
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: Nonstandard
Size / Dimension: 0.118" L x 0.118" W (3.00mm x 3.00mm)
Mounting Type: Surface Mount
Shielding: Shielded
Type: Wirewound
Operating Temperature: -40°C ~ 105°C
DC Resistance (DCR): 74mOhm Max
Current - Saturation (Isat): 1.6A
Inductance Frequency - Test: 1 MHz
Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm)
Part Status: Obsolete
Inductance: 1.5 µH
Current Rating (Amps): 1.6 A
на замовлення 377 шт:
термін постачання 21-31 дні (днів)
Кількість | Ціна |
---|---|
5+ | 63.66 грн |
10+ | 53.64 грн |
25+ | 49.81 грн |
50+ | 39.55 грн |
100+ | 35.96 грн |
250+ | 33.80 грн |
Відгуки про товар
Написати відгук
Технічний опис VLS3015T-1R5N1R6 TDK Corporation
Description: FIXED IND 1.5UH 1.6A 74 MOHM SMD, Tolerance: ±30%, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: Nonstandard, Size / Dimension: 0.118" L x 0.118" W (3.00mm x 3.00mm), Mounting Type: Surface Mount, Shielding: Shielded, Type: Wirewound, Operating Temperature: -40°C ~ 105°C, DC Resistance (DCR): 74mOhm Max, Current - Saturation (Isat): 1.6A, Inductance Frequency - Test: 1 MHz, Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm), Part Status: Obsolete, Inductance: 1.5 µH, Current Rating (Amps): 1.6 A.
Інші пропозиції VLS3015T-1R5N1R6
Фото | Назва | Виробник | Інформація |
Доступність |
Ціна |
---|---|---|---|---|---|
![]() |
VLS3015T-1R5N1R6 | Виробник : TDK |
![]() |
на замовлення 920 шт: термін постачання 21-30 дні (днів) |
|
![]() |
VLS3015T-1R5N1R6 | Виробник : TDK Corporation |
![]() Tolerance: ±30% Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: Nonstandard Size / Dimension: 0.118" L x 0.118" W (3.00mm x 3.00mm) Mounting Type: Surface Mount Shielding: Shielded Type: Wirewound Operating Temperature: -40°C ~ 105°C DC Resistance (DCR): 74mOhm Max Current - Saturation (Isat): 1.6A Inductance Frequency - Test: 1 MHz Height - Seated (Max): 0.059" (1.50mm) Part Status: Obsolete Inductance: 1.5 µH Current Rating (Amps): 1.6 A |
товару немає в наявності |